• TS150-HP & TS200-HP

    MPI High Power Manual Probe Systems MPI High-Power device characterization systems are specifically designed for on-wafer high power device testing.MPI TS150-HP and TS200-HP probe systems provide a complete 150 mm and 200 mm on-wafer soluti

    2019-12-19 admin

  • TS2000-HP Probe System

    TS2000-HP – 先进的高功率解决方案 MPI的TS2000-HP自动化测量装置可在宽温度范围内测量高达3 kV(三轴)/ 10 kV(同轴)和600 A(脉冲)的高功率器件。先进的ShielDEnvironment™提供低噪音和屏蔽的测试环境。

    2019-12-19 admin

  • TS2000-DP Probe System

    凭借TS2000-DP,MPI提供了一个多功能且经济实惠的探针台,用于在20°C至300°C的温度范围内进行晶圆上高功率器件测量,测量能力高达3 kV(三轴)/ 10 kV(同轴)和600A(脉冲)。

    2019-02-20 admin

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