• MPI TS150, TS200 & TS300

    MPI TS150,TS200和TS300 手动探头系统是开放式的,易于使用且具有成本效益且高度准确。这些系统专为高达150,200和300mm的基板和晶圆的精密分析而设计。 它们可以配置为支持各种应用,例如 故障分析, 设计验证/ IC工程,晶圆级可靠性,MEMS, 高功率 和器件表征和建模 。

    2019-12-19 admin

  • MPI TS150-THZ 太赫兹 毫米波Probe System

    The MPI TS150-THZ is designed for mechanical stability. It works without chuck elevation at frequencies higher that G band (220GHz) and shares the same unique concept of stage and probe platen lift like all MPI Manual TS150, TS200, and TS30

    2019-04-26 admin

  • MPI TS200-SE Probe System

    MPI TS200-SE探头系统采用ShieldEnvironment™,可提供最佳EMI屏蔽,允许对设备特性和建模,射频和微波,故障分析,设计验证和高功率等多种应用进行超低噪声器件晶圆上测量至200mm晶圆尺寸。 所有MPI手动探头系统的模块化设计理念都可以实现独特的升级途径,从而降低拥有成本。

    2019-03-28 admin

  • MPI TS300-SE 探针台系统

    The MPI TS300-ShielDEnvironment™ (TS300-SE) is designed to ensure advanced EMI/RFI/light-tight shielding, ultra-low noise, low leakage measurement capabilities on 300 mm wafer in a temperature range from -60 to +300°C. It’s incorporate

    2019-03-28 admin

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