• TS150-HP & TS200-HP

    MPI High Power Manual Probe Systems MPI High-Power device characterization systems are specifically designed for on-wafer high power device testing.MPI TS150-HP and TS200-HP probe systems provide a complete 150 mm and 200 mm on-wafer soluti

    2019-12-19 admin

  • MPI TS150, TS200 & TS300

    MPI TS150,TS200和TS300 手动探头系统是开放式的,易于使用且具有成本效益且高度准确。这些系统专为高达150,200和300mm的基板和晶圆的精密分析而设计。 它们可以配置为支持各种应用,例如 故障分析, 设计验证/ IC工程,晶圆级可靠性,MEMS, 高功率 和器件表征和建模 。

    2019-12-19 admin

  • TS2000-HP Probe System

    TS2000-HP – 先进的高功率解决方案 MPI的TS2000-HP自动化测量装置可在宽温度范围内测量高达3 kV(三轴)/ 10 kV(同轴)和600 A(脉冲)的高功率器件。先进的ShielDEnvironment™提供低噪音和屏蔽的测试环境。

    2019-12-19 admin

  • Maury 微波测量设备

    射频和微波表征解决方案 精密校准标准 测试要点 相稳定测试电缆 测试与测量仪器放大器 Maury Microwave提供测量和建模设备表征系统和服务,包括非线性无源,有源和混合有源基波和谐

    2019-11-18 admin

  • Maury 微波测量设备

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    2019-11-18 admin

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    2019-11-18 admin

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