• TS150-HP & TS200-HP

    MPI High Power Manual Probe Systems MPI High-Power device characterization systems are specifically designed for on-wafer high power device testing.MPI TS150-HP and TS200-HP probe systems provide a complete 150 mm and 200 mm on-wafer soluti

    2019-12-19 admin

  • MPI TS150, TS200 & TS300

    MPI TS150,TS200和TS300 手动探头系统是开放式的,易于使用且具有成本效益且高度准确。这些系统专为高达150,200和300mm的基板和晶圆的精密分析而设计。 它们可以配置为支持各种应用,例如 故障分析, 设计验证/ IC工程,晶圆级可靠性,MEMS, 高功率 和器件表征和建模 。

    2019-12-19 admin

  • TS2000-HP Probe System

    TS2000-HP – 先进的高功率解决方案 MPI的TS2000-HP自动化测量装置可在宽温度范围内测量高达3 kV(三轴)/ 10 kV(同轴)和600 A(脉冲)的高功率器件。先进的ShielDEnvironment™提供低噪音和屏蔽的测试环境。

    2019-12-19 admin

  • MPI TS3500 全自动探针台

    具有WaferWallet™的TS3500系列=精度+灵活性+自动化 TS3500和TS3500-SE 在功能上与MPI著名的已建立的 TS3000 和 TS3000-SE 300毫米探针台具有相同的功能,并通过配置或升级MPI独特的WaferWallet™而具有

    2019-09-27 admin

  • MPI TS150-THZ 太赫兹 毫米波Probe System

    The MPI TS150-THZ is designed for mechanical stability. It works without chuck elevation at frequencies higher that G band (220GHz) and shares the same unique concept of stage and probe platen lift like all MPI Manual TS150, TS200, and TS30

    2019-04-26 admin

  • TS2000-SE-自动探针台系统

    MPI公司出品的TS2000-SE 型8寸半自动晶圆测试探针台是市场上有史以来第一次为200毫米自动化工程探测系统在集成创新的特点专门设计。这些特性是纳入MPI ShielDEnvironment™为超低噪音,非常准确和高度可靠的DC/CV, RF和高功率测量。

    2019-04-26 admin

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