MPI宣布用于射频IC表征的TITAN™多触点探针

2019-09-29 admin


MPI宣布用于射频IC表征的TITAN™多触点探针


台湾2019年5月2日  - MPI公司推出了TITAN™多触点探头,这是该公司TITAN™RF探测技术的进一步发展,以应对测试现代Si RF IC的挑战。

 TITAN™多触点探针允许客户配置多达15个用于RF,偏置和逻辑IC端子的探头通道,这些通道具有该公司专有的MEMS触点,并且具有一种可见的触点。它提供了独特的结合,即接触宽度为20μm,最小探针间距从50μm开始,并且在Al焊盘上的使用寿命超过100万次。

MPI公司先进半导体事业部RF技术总监Andrej Rumiantsev表示:“这种设计旨在通过在小焊盘上进行探测来降低现代硅高度集成的RF IC的测试成本,并提供最长的使用寿命,可负担的价格和较短的交货时间。” “作为同类产品中最短的探针,它可以在宽温度范围内的屏蔽环境中对大型IC进行过热特性分析,同时,它也是最方便使用的探针。”

TITAN™多触点探头是MPI工程师如何帮助客户解决快速发展且竞争激烈的RF IC市场挑战的另一个案例。

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