• 硅光子集成电路测试

    在半导体光器件测试和设计中常会遇到很多挑战: 目前市场上很有竞争力的一套硅光测量系统解决方案或许可以帮助您更好的走出困境

    2020-07-21 admin

  • 材料测试

    2019-11-01 admin

  • 硅光子探针台

    在有线和/或无线通信的所有阶段都增加带宽的需求以及数据中心速度的提高,正在推动通信世界从铜互连转向硅光子学。 这项不断发展的技术结合了光纤,光波导,集成光学器

    2020-07-21 admin

  • 失效分析(FA)

    對对所有半导体制造商及晶片设计公司而言,分析元件失效的真正原因是非常必要的。失效分析的流程主要有下面几个类别:

    2017-11-22 admin

  • 晶圆级可靠度(WLR)

    晶圆级可靠度(WLR)系元件在特定状态下经过一定时间测试后,其电性规格仍保持高一致性之能力。积体电路完成设计且初版晶矽制作完成后,便会进行晶圆级可靠度(WLR)测试,藉由评估技术的可靠度,得以加速新积体电路设计及制程之验证。应用范例如下:

    2017-11-21 admin

  • 设计验证及集成电路工程

    集成电路的设计验证对半导体的制程成功至关重要。除了电子设计自动化(EDA)设计验证工具、内建自我测试(BIST)及可测性设计(DFT)这些方法之外,集成电路制造商亦使用许多方式验证初版矽晶样品。这些方式包括使用测试用的工程探针台系统,搭配多种测试仪器、自动测试设备(ATE)及专用的工程验证系统。

    2017-11-21 admin

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