• 晶圆级可靠度(WLR)

    晶圆级可靠度(WLR)系元件在特定状态下经过一定时间测试后,其电性规格仍保持高一致性之能力。积体电路完成设计且初版晶矽制作完成后,便会进行晶圆级可靠度(WLR)测试,藉由评估技术的可靠度,得以加速新积体电路设计及制程之验证。应用范例如下:

    2017-11-21 admin

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