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射频及毫米波应用(RF & mmW)

2017-11-24 MICROTEST

应用说明:

晶圆级射频及毫米波(RF & mmW)特性描述是射频及毫米波积体电路开发、设计除错,以及高效能半导体元件建模的关键部分。由于晶圆级 RF 测试仪器(如:向量网路分析仪、升频器、阻抗调谐器、藕合器、Bias-Ts 及许多其他系统元件)之架设整合具高複杂性及需求特殊性,MPI特为此应用量测的精准度,投入相当多心力。


量测需求:


射频量测需求主要涵盖 RF 功率及 RF 杂讯特性描述之大小讯号量测、S 参数、讯号源、负载拉移阻抗匹配等 。这些应用皆挑战探针台系统的机械稳定性、最短传输路径、量测最佳方向性、长时间于不同类型金属待测物上重複且高一致性的点测能力、以及是否可精准校正至待测物端之能力。


RF & mmW

MPI-AST-V20-001


Trendsetting Methodologies for

Wafer-Level RF Measurements


MICROTEST解决方案:


MPI稳固的工程探针台系统,是您在射频及毫米波量测应用的最佳选择。精巧的底座尺寸完全符合 RF 功率及杂讯特性描述系统的整合需求。精密且无后座力的 RF 微定位器(MicroPositioners),提供准确定位 RF 探针的能力。


精密设计的 TS150-THZ 探针台系统搭配高端毫米波 MP80 微定位器(MicroPositioner)、以及兼具高倍率及长工作距离的 MPI SZ10 或 MZ12 光学显微镜,尽可能地缩短了毫米波/次毫米波网路分析仪升频器与待测物之间的距离,除实现最短讯号传输路径,更确保最佳的量测方向性及精准度。


MPI TITAN™ 射频探针系列,採专利的探针叶片设计及微机电製程製造,提供优异可视角、低接触电阻,甚至在较难探测之铝材上亦能展现极高的接触一致性。


领先业界的校正软体 QAlibria® 及经过验证之校正件(Calibration Substrates),实现业界标准及先进的校正方法,提供 RF 计量校正的解决方案。


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